Nome do Produto | Barra de vidro de quartzo |
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Material | SIO2>99,99% |
Densidade | 2,2g/cm3 |
Transitância luminosa | 92% |
Dureza | Morse 6.5 |
Nome do produto | Placa de vidro de quartzo |
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Material | SIO2>99.99% |
Densidade | 2.2g/cm3 |
Dureza | morse 6,5 |
Temparature de trabalho | 1150℃ |
Nome do produto | Placa de vidro de quartzo |
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Material | SIO2>99.99% |
Densidade | 2.2g/cm3 |
Dureza | morse 6,5 |
Temparature de trabalho | 1150℃ |
Nome do produto | Urna de quartzo |
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Material | SIO2>99.99% |
Densidade | 2.2g/cm3 |
Dureza | Morse 6,5 |
Ponto do derretimento | 1750-1850℃ |
Nome | Tubo de vidro de quartzo |
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Aplicação | Fontes , Semicondutores |
Material | SIO2>99,99% |
Característica | Bom Isolamento Elétrico |
transmissão de luz | >92% |
Tipo | Placa clara de quartzo |
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Inscrição | Semicondutor, ótico |
Espessura | 0.5-100mm |
Forma | Quadrado |
Processando o serviço | Perfuração, corte, lustrando |
Nome do produto | Placa de vidro lisa |
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Material | 99,99% |
Transmitância claro | 92% |
Densidade | 2.2g/cm3 |
Temparature de trabalho | 1100℃ |
material | silicone fundido |
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Temperatura de trabalho | 1250℃ |
Tolerância ácida | 30 vezes do que a cerâmica |
Dureza | Morse 6,5 |
aplicação | Análise laboratorial |
Nome do produto | Tubo de ensaio de quartzo |
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Material | Quartzo fundido |
Densidade | 2.2g/cm3 |
Temperatura de trabalho | 1100℃ |
Ponto do derretimento | 1750℃ |
Tipo | Placa de quartzo transparente |
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Aplicação | Semicondutor, ótico |
Espessura | 0.5-100 mm |
Forma | Quadrado |
Serviço de tratamento | Fabricação em que o teor de ácido acetilsalicílico não exceda 50% do teor de ácido acético |